羅德與安培Schwarz增強(qiáng)了其高質(zhì)量的汽車天線罩測(cè)試儀R＆amp; S QAR，這是一種用于雷達(dá)集成測(cè)試的定制解決方案，可以分析和評(píng)估與雷達(dá)兼容性相關(guān)的天線罩（汽車徽標(biāo)）和保險(xiǎn)杠。
OEM OEM和一級(jí)供應(yīng)商使用新的R＆amp; S QAR-K50單天線簇測(cè)量軟件以無損的二維方式執(zhí)行測(cè)量，并且可以獲得非常接近矢量的測(cè)量結(jié)果網(wǎng)絡(luò)分析儀（VNA）。
）和準(zhǔn)光學(xué)（QO）設(shè)備。
另外，用戶將從R＆amp; S QAR的直觀操作概念中受益。
R＆amp; S QAR是適用于天線罩和保險(xiǎn)杠的測(cè)試和驗(yàn)證的毫米波成像系統(tǒng)。
由于其出色的性能，速度，質(zhì)量和直觀的操作，該系統(tǒng)已成為完美的工具。
應(yīng)用范圍涵蓋天線罩材料和76 GHz至81 GHz的集成測(cè)試，包括研發(fā)，生產(chǎn)和驗(yàn)證。
每節(jié)課。
高空間分辨率是以更大的入射角擴(kuò)展為代價(jià)的。
典型的雷達(dá)傳感器具有特定的視場(chǎng)（FOV），例如，全范圍雷達(dá)（FRR）為±10度，而短程雷達(dá)（SRR）為±60度。
根據(jù)材料表征技術(shù)，天線罩的反射參數(shù)主要由垂直入射角定義，因?yàn)檫@些參數(shù)可以使用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀（VNA）進(jìn)行測(cè)量。
R＆amp; S QAR-K50軟件選件就是基于此主題的。
將R＆amp; S QAR提供的結(jié)果與使用標(biāo)準(zhǔn)矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀（VNA）和準(zhǔn)光學(xué)（QO）設(shè)備測(cè)得的結(jié)果進(jìn)行比較。
通過R＆amp; S QAR使用的較大孔徑，可以觀察和解釋測(cè)試對(duì)象。
一些錯(cuò)誤。
這就是R＆amp; S QAR-K50軟件選件發(fā)揮作用的地方。
它將自動(dòng)檢測(cè)材料樣品中的最高反射率和測(cè)試區(qū)域的平均值。
可以在7秒鐘內(nèi)確定反射區(qū)域的平均值，并將測(cè)量結(jié)果顯示給用戶。
該值與VNA的S11和S22的反射測(cè)量結(jié)果緊密匹配。
現(xiàn)在可以將在開發(fā)過程中使用VNA和QO設(shè)備進(jìn)行的測(cè)量結(jié)果直接與R＆amp; S QAR的測(cè)量結(jié)果進(jìn)行比較。
該系統(tǒng)仍使用微波成像技術(shù)，但天線孔徑較小，因此對(duì)定位誤差的敏感性較低，比VNA設(shè)備更適合生產(chǎn)環(huán)境。
即使樣品定位有微小的公差，R＆amp; S QAR-K50軟件也可以自行檢測(cè)正確的測(cè)量區(qū)域，并向操作員提供光學(xué)反饋。
現(xiàn)在，R＆amp; S QAR將適用于均勻性分析的高分辨率圖像（R＆amp; S QAR-K10軟件）與穩(wěn)健且易于使用的反射率測(cè)量相結(jié)合。
使用R＆amp; S QAR-K50軟件選件獲得的測(cè)量值可以直接等同于VNA在QO設(shè)置中提供的結(jié)果。
R＆amp; S QAR-K50是用于單天線群集測(cè)量的軟件選件。
可以使用最新版本的固件將其安裝在R＆amp; S QAR的所有Windows 10版本上。
可以通過輸入鍵密碼來激活它。
現(xiàn)在可以從Rohde＆amp;定購此選項(xiàng)。
施瓦茨
